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说明:
1.这个测试只是针对N沟的,对于P沟单管FET,只要把下面步骤中的红黑表笔对调即可。
2.测试建议用数字万用表的二极管/通断档测量。这样可以利用数字万用表的蜂鸣在不看万用表读数的情况下即可知道测试的结果。如果用模拟万用表,则选用最小欧姆档。下面步骤中的红黑表笔对调即可。
3.这种测试只是针对低栅压(4.5V或者以下即可饱和导通)的FET才能使用。因为数字万用表的二极管/通断档的电压只有3V多一点。这个电压只能让低栅压FET导通。普通的10V栅压才能饱和导通的FET不适用这个方法!!!!!一般的耐压30V的贴片FET基本都是低栅压的。除了一些较老的、内阻较大的型号(例如SI4410)不能饱和导通(还是可以测试出来,只是测试中,万用表读数不能回到0)以外,一般市面常见贴片FET都可以用这个方法测试。
在测试之前,先用手“抚摸”一遍管子的引脚。目的是利用人体的电阻,将栅极的电荷放掉。FET要放置在干燥不导电的平面上。比如在桌上垫一张干净的报纸即可。
测试步骤:
1.按图示放置FET。将黑表笔接1-3脚中的任意一个,保持接触的状态不动。我一般用黑表笔压住第一或者第二个引脚。这样可以远离第4脚,避免测试失败。
2.红表笔碰触上面的5-8引脚中的任意一个引脚。此时万用表应该不叫,读数显示无穷大。如果万用表显示读数不是无穷大,或者干脆已经叫了起来。那么这个FET肯定已经坏了!
3.用红表笔在第4脚上碰一下。这时读数应该为无穷大。如果读数不是无穷大,或者叫了起来,那FET肯定已坏。如果没有问题,则保持第4脚不和其他任何东西接触。这是全部测试中最关键的一步。它的目的是将万用表红黑表笔之间的3V左右的电压加到栅极和源极之间。这样对于低栅压的FET,它的导通电压一般都在2V左右(个别FET在1V左右即可导通,2.5V即可饱和导通了!),所以3V的电压就足以使它接近饱和导通。
4.将红表笔移回到上面的5-8引脚。这时万用表应该叫起来,同时读数接近0。因为万用表测试电流非常小,因此即使FET只是接近饱和导通,读数仍可以接近0。如果万用表没有叫,且读数远大于0。那么说明管子坏了。
5.用手摸以下3、4脚,将栅极的电荷放掉。再次重复步骤2-5。一般能够通过3次这样的测试的FET即可认为是好的了。
注意:
1.FET下面垫的东西一定不能导电。
2.某些FET的栅极接有保护二极管(比如某电调中的FET:uPA1716。很牛的一种FET。内阻很低,而且保护措施完善)。它们有放电的作用。所以在上述步骤3后,要迅速进入步骤4。否则保护二极管会把栅极的电荷放掉,测试会失败,并造成错误的判断。
3.经过下述测试后的FET只是证明通断功能正常。但并不一定完全合格。其他一些指标,比如漏极和源极最高耐压等等重要指标并不能测试出来。但一般我们用的多半是30V左右的低内阻FET。而FET的工作电压一般不超过12V,2倍的工作电压仍旧在30V以内。因此基本可以使用。我曾经用耐压30V的IRF7831在无刷电调上在16节电池(20V的工作电压)下正常工作。
不过如果一次购买的FET中如果用这种方法都能测出坏的、且比例超过5%,那么说明这些FET本身质量不够可靠。多半是淘汰下来的在电子市场中低价出售。即使通过下述测试没有问题的FET,也存在其他缺陷的可能。除非没有其他途径购买,建议不要使用!如果非用不可,也务必要小心,尽量降低指标使用。对此,我有过惨痛的教训,以后会单列专题讨论。 |
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